适合您应用的定制化测量解决方案
MarSurf CM select 是强大的可配置型共焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 - 无接触,不受材料影响,而且速度快。
典型测量任务
粗糙度测量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)
轮廓和形状 (2D, 3D)
孔,颗粒分析
缺陷检测
根据应用调整的测量解决方案
作为一个多传感器系统,MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。
最高数据质量
我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录,保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值。
德国Mahr马尔 表面测量 MarSurf3D CM expert