FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ WAFER 配备了带真空晶片夹头和 Ultra 微聚焦射线管的可编程测量台,能够以最佳方式满足半导体行业的需求。内置在 XRF 设备中的多毛细管光学可将 X 射线辐射集中在 10 或 20 µm 的最小测量点上,从而实现短时间、高强度的测量。因此,与传统设备相比,您可以更精确地分析单个微观结构,而且完全自动化。
XDV®-μ SEMI 与您选择的晶片处理机相结合
借助先进的图像识别技术,可在预定义结构上自动执行测量
可靠、快速的测量结果
只需轻轻一点,仪器就能为您服务
我们自主生产的多毛细管光学可在较短的测量时间内提供出色的测量结果
更短的测量时间或更高的标准偏差*。
*与 DPP 相比
德国FISCHER菲希尔 测量设备 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD