FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 仪器是Fischer高端 X 射线荧光测量设备之一,是测量微小结构的理想之选。它们配备了最新一代的大功率硅漂移探测器、超微聚焦射线管和内部生产的多毛细管光学。由于辐射强度高,测量时间大大缩短,可以对最小的测量点进行高精度测量。
可靠且快速的结果,满足高要求的测量任务
我们自主生产的多毛细管光学可在较短的测量时间内提供出色的测量结果
借助先进的图像识别技术,可在预定义结构上自动执行测量
只需轻轻一按,即可让仪器为您工作
缩短测量时间或改善标准偏差*。
*与 DPP 相比
德国FISCHER菲希尔 测量设备 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD