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薄,更薄,XDAL®:借助微聚焦射线管和多种半导体探测器,FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 系列是薄涂镀层和极薄涂镀层 < 0.05 μm 领域以及 ppm 范围内材料分析的理想之选。配备 50 mm² 硅漂移探测器的仪器版本还适用于 RoHS 测量。XDAL® 具有多种配置选项(工作台、准直器、滤波器和探测器),使用灵活,测量精确可靠,100% 安全。
极其快速简单
涂镀层厚度测量、材料分析和痕迹分析
即使是大型样品,也可在整个样品表面设置测量点
带 C 型槽的防护罩
只需轻轻一点,仪器即可为您工作
在性能和空间要求之间取得了很好的平衡
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